010-62029100
名称： 紫外LED性能测试系统
型号：
品牌： Nmerry努美
高精度UV（紫外）LED测试系统可以对UV LED实现**值测量。
? UV LED 的**光谱通量（w/nm）和光功率测量，低至UV-C（200nm）
? 系统在全部测量范围 200-980nm内，其不确定度可溯源至NIST
? 先进的杂散光修正技术使得即使在200nm时仍能保证低噪音和高精度测量
? 系统测试范围广，覆盖200nm~980nm（可见和近红外）
准确表征封装 UV LED 性能
紫外LED性能取决于结温。中心的温度变化会影响紫外LED输出和预期寿命。可助用户快速、准确地测试紫外LED在各种热力条件下的性能。
可靠的测试结果
? NMI 可跟踪校准 Xe 标准灯
? 动态范围，适用于各种光照水平
? Spectralon®积分球，EPV Spectralon可选
? 具有高效抑制杂散光的CDS-2600-UVwww.2138.com
测量
? 总辐射通量
? 总光子通量
? 电功率
? 波长特征
? 峰值波长
? FWHM
? 扫描 L,I,V,T 曲线应用领域
应用领域
? 杀菌 UV 灯（GUV）
? UVC 消毒和净化灯
? 紫外线固化灯
? 医学光疗
? 分析仪器
? 园艺照明
扫描LIVT 曲线测量函数
测量参数
电学：电流，电压，电功率
光学：光谱和总辐射通量，光子通量，峰值波长，中心波 长，质心波长，FWHM
热学：外壳温度控制与电气和光学参数
规格参数
| Name | Constant | Vary | Measure |
| ILV | T | I | L, V |
| VLI | T | V | L, I |
| TLV | I | T | L, V |
| TLI | V | T | L, I |
| ILV/T |
T for each I Setting |
I, T | L, V |
| VLI/T |
T for each V setting |
V, T | L, I |
关键词: I=电流，L=功率， V=电压，T=温度
| 测量范围 | 200 - 400 nm |
| LED 光通量 | 1mW - 2000mW |
| 5 W 热负载工作温度 | 20 - 85 C |
| 积分球尺寸 | 6in |
| 积分球内部涂层 | Spectralon |
| www.2138.com | CDS-2600-UV |
| 电源表 | Keithley 2400 |
| TE 制冷 | Arroyo TE Chiller 207 |
| TEC 电源 | Arroyo 5305 |
系统www.2138.com规格参数
| www.2138.com | CDS-2600-UV |
| 探测器 | TE 制冷1044 x 64 CCD (back thinned) |
| 冷却 | -10 ± 0.05 C |
| 光谱范围 | 200 nm - 960 nm |
| UV 校准范围 | 200 nm - 400 nm |
| 分辨率 | 2.2 nm |
| 波长精度 | < ± 0.4 nm |
| 数据点间隔 | 1.0 nm |
| 积分时间 | 8ms - 900Seconds |
| 动态范围 | > 200,000:1* |
| 平均噪声 % (360 - 830 nm) | 0.07% |
| 软件校正杂散光 | < 1.0%** |
* 测量为饱和信号除以平均 10 次扫描的暗信号的标准偏差。
** 杂散光是通过 500 nm 截止滤光片在 210-370 nm 之间报告的平均透射率
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