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探测器光谱辐射响应性能测试装置

名称: 探测器光谱辐射响应性能测试装置

型号: NI1101

品牌: NMERRY努美

  • 详细信息

参数:
?中心波长精度:优于±1nm;
?峰值波长精度:优于±1nm;
?光谱带宽测量精度:优于±0.5nm;
?相对光谱响应度测量精度:优于±2 %;
?非均匀性标定误差:优于±1%;
?像素不均匀性测量精度:1%;
 

应用:
?线/面阵/TDI 
?CCD以及CMOS等阵列光电探测器的光谱
?辐射响应性能测试和标定。
 

案例:
?中科院新疆理化研究所
?航天八院812所
?西北工业大学等
 

敏感器大面阵CCD关键参数测量系统

CCD光电参数测试设备

红外探测器光谱响应测试系统原理结构图

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红外探测器光谱响应测试系统

 


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